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    高精度光學坐標測量儀

    簡要描述:高精度光學坐標測量儀μCMM是奧地利Bruker Alicona公司研發生產的集樣品尺寸特性,位置,形狀和粗糙度測量功能於一體的全程高精度測量係統。

    • 產品型號:μCMM
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2024-07-03
    • 訪  問  量:3885

    詳細介紹

    高精度光學坐標測量儀μCMM的突出特點:

    . 高精度測量公差非常小的部件 
    . μCMM是同類產品中精確很高的純光學微坐標測量係統。 
    . 用戶將觸覺坐標測量技術和光學表麵測量技術的優勢結合起來,隻用一個傳感器測量零件的尺寸、位置、形狀和粗糙度。 
    . μCMM提供了更高幾何精度的光學三維測量,能夠測量大部件上的小表麵細節,並精確確定這些單獨測量的相對位置。 
    . 可測量表麵的光譜包括所有常見的工業材料和複合材料,如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、矽。 
    . 材料從啞光到拋光各種反光成分都可以測量。 
    . 操作簡單是通過單按鈕解決方案,有一個集自動化和人體工程學控製元素特別設計的控製器。 
    . 帶線性驅動的空氣軸承軸可實現無磨損使用和高精度、以及更快速測量。這也使得μCMM非常適合在生產中長期使用。

     

    高精度光學坐標測量儀μCMM的技術參數:

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